GB 2689.2-1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布)
作者:标准资料网 时间:2024-05-21 06:32:52 浏览:9501
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基本信息
| 标准名称： | 寿命试验和加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布) |
| 英文名称： | Life test and acceleration life test charts-Evaluation of their Weibull distributions |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 电子元器件与信息技术综合 >> 可靠性和可维护性 |
| ICS分类： | 电子学 >> 电子元件综合 |
| 替代情况： | 替代SJ 1433-1978 |
| 发布部门： | 国家标准总局 |
| 发布日期： | 1981-06-22 |
| 实施日期： | 1981-10-01 |
| 首发日期： | 1981-06-22 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 提出单位： | 中华人民共和国第四机械工业部 |
| 归口单位： | 信息产业部（电子） |
| 起草单位： | 四机部标准化研究所 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 1981-10-01 |
| 页数： | 8页 |
适用范围
本标准规定了用于恒定应力寿命试验和加速寿命试验的图估计法的程序。它适用于电子器件产品（以下简称产品）的寿命服从威布尔分布，其开头参数m>0，特征寿命η>0，位置参数γ=0的情况。可以用来估计产品寿命特征；判断整个试验数据是否有异常情况或判断试验结果是否符合数值分析法的试验假设。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 电子元器件与信息技术综合 可靠性和可维护性 电子学 电子元件综合
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