GB/T 15471-1995 逻辑分析仪通用技术条件和测试方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-12 07:42:31 浏览:8946
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基本信息
| 标准名称： | 逻辑分析仪通用技术条件和测试方法 |
| 英文名称： | General specification and test method for logic analyzers |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 电子测量与仪器 >> 电子测量与仪器综合 |
| ICS分类： | 计量学和测量、物理现象 >> 电学、磁学、电和磁的测量 >> 电学、磁学一般特性 |
| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | 1995-01-02 |
| 实施日期： | 1995-10-01 |
| 首发日期： | 1995-01-27 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 归口单位： | 全国电子测量仪器标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 上海无线电二十一厂 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2004-07-25 |
| 页数： | 平装16开， 页数：28， 字数：50千字 |
| 书号： | 155066.1-11923 |
适用范围
本标准规定了逻辑分析仪的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、储存及外观、安全、功能正常性的检查方法，主要性能的测试方法。本标准适用于3.1条中规定的逻辑分析仪，也适用于具有逻辑插入单或逻辑分析仪的附属装置的测量仪器，个人仪器型的逻辑分析仪可参照本标准。?
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所属分类： 电子元器件与信息技术 电子测量与仪器 电子测量与仪器综合 计量学和测量 物理现象 电学 磁学 电和磁的测量 电学 磁学一般特性
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